模拟示波器的正常运行是在几个关键组件的共同作用下实现的，包括阴极射线管CRT、垂直放大器、时基、水平放大器、电源。CRT是整个模拟示波器运行的核心，其中的电子束能够形成被测电信号的可见轨迹，其过程包括垂直放大、时基控制、水平放大。
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半导体行业一直专注于使用先进的刻蚀设备和技术来实现图形的微缩与先进技术的开发。随着半导体器件尺寸缩减、工艺复杂程度提升，制造工艺中刻蚀工艺波动的影响将变得明显。刻蚀终点探测用于确定刻蚀工艺是否完成、且没有剩余材料可供刻蚀。这类终点探测有助于最大限度地减少刻蚀速率波动的影响。
>>详情宽带5G设备的设计工程师和测试工程师亟需快速、准确且经济高效的测试解决方案来确保新型芯片设计的可靠性。了解宽带5G IC测试的最大测试挑战
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展望2024年，泰克示波器将继续致力于创新和卓越。随着半导体、汽车、高速接口技术等领域的不断发展，电子测试和测量的需求将变得更为复杂和多样化。泰克示波器有望在这个充满挑战和机遇的新时代中继续引领潮流，为客户提供更先进、更智能的解决方案。
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机器人系统可自动执行重复性任务，承担复杂而费力的作业，并在对人类有危险或有害的环境中工作。集成度更高、性能更强的微控制器 (MCU) 可实现更高的功率效率、更平稳安全的运动以及更高的精度，从而提高生产力和自动化水平。例如，更高的精度（有时在 0.1mm 以内）对于处理激光焊接、精密涂层或喷墨或 3D 打印的应用非常重要。
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为了确保高精度，精密测试和测量系统需要具有低纹波和辐射噪声的电源解决方案，以免降低高分辨率转换器信号链的性能。在这些测试和测量应用中，生成双极和/或隔离的系统电源在电路板面积、开关纹波、EMI 和效率方面给系统设计人员带来了挑战。
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电阻温度系数（TCR 或 RTC）是上述缺陷的热能因素的特征。假设晶粒结构没有因极端脉冲/过载事件导致的高温而改变，则当温度恢复到参考温度时，这种电阻变化带来的影响是可逆的。对于 Power Metal Strip® 和 Power Metal Plate™ 产品，这将是一个导致电阻合金超过 350℃ 的温度。
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本文证明，在 DUT 上实施 OpSens 光纤传感器可以成为测量功率循环测试（尤其是交流）中结温的一种有效且实用的方法。结果表明，在不影响转换器正常工作的情况下，可以获得稳定、准确的测量结果。在一篇文章中，将提供光纤实现和使用结温数据估计寿命的更多细节。
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