是德科技，以太网性能测试平台，AresONE－M 800GE
2023-07-27 09:25:19是德科技（Keysight Technologies, Inc.）日前宣布，推出第 1 层至第 3 层全方位以太网性能测试平台 AresONE-M 800GE，为 10GE 到 800GE 的数据中心互连速度提供支持。
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WiSA Technologies股份有限公司宣布推出两款新工具，供公司客户使用，旨在简化采用WiSA E和WiSA DS的产品的开发和制造。新的WiSA Server与新的产品支持工程工具（Product Support Engineering Tool，PEST）相结合，可以加快产品上市时间，并对测试和制造过程的其他方面进行全面管理。
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近日，为加速推动RedCap（Reduced Capability，轻量化5G）技术商用、协同芯片/终端/网络产业链完善适配5G创新业态、增强中高速物联网业务能力，紫光展锐联合中国广电、中兴通讯等行业伙伴完成了RedCap技术端到端能力测试。测试结果表明，广电5G相关频段的网络及终端设备RedCap功能已齐备、性能达到预期，产业链已具备商用条件。
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日前，国际独立第三方检测、检验和认证机构德国莱茵TÜV大中华区（以下简称 "TÜV莱茵" ）位于江苏省太仓市的TÜV莱茵汽车电子电磁兼容（EMC）和汽车零部件测试实验室、位于上海的汽车零部件实验室以及位于广东省广州市的汽车电子EMC实验室，正式获上汽通用五菱汽车股份有限公司（以下简称 "上汽通用五菱" ）授权，可承接上汽通用五菱及其供应商的EMC与环境可靠性试验。
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由中央军委装备发展部支持，中国电子科技集团有限公司、中国电子信息产业集团有限公司联合主办的第十二届中国国际国防电子展览会，在北京国家会议中心成功举办。
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氮化镓器件是第三代半导体中的典型代表，具有极快的开关速度，能够显著提升功率变换器的性能，受到电源工程师的青睐。同时，极快的开关速度又对其动态特性的测试提出了更高的要求，稍有不慎就会得到错误结果。
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本届ICDIA展会以“应用引领集成电路产业高质量发展”为主题，围绕EDA/IP与IC设计创新、ChatGPT与高算力芯片、汽车电子、射频与无线通信技术、云端半导体、智能家电等内容，探讨IC创新与未来产业应用，吸引了近200家展商参展，为现场2000多名专业观众带来了一场IC设计与芯片应用的顶级盛会。
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2023慕尼黑上海电子展(electronica China)正在国家会展中心（上海）举办，作为全球领先的测试测量解决方案提供商，泰克科技现场展出其领先测试解决方案，展位号国家会展中心（上海）6.2号馆A202。
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蛰伏两年的慕尼黑上海电子展于2023年7月11-13日蓄势而来，艾德克斯（ITECH）作为一家深耕“功率电子”产品测试领域供应商，携众多明星产品及各类测试解决方案亮相展会现场，全方位展示ITECH“与时俱进”的创新硬实力，与国内外行业专家共话全球顶尖测试技术。
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英国Pickering公司作为用于电子测试和验证的模块化信号开关和仿真解决方案的全球供应商，将在2023年7月11-13日于上海国家会展中心举办的2023慕尼黑上海电子展中推出用于电子测试与验证的新型模块化信号开关与仿真产品。作为英国Pickering集团全资子公司，以及自动测试领域的开关专家--品英仪器（北京）有限公司的专家们期待您莅临2023慕尼黑上海电子展6.2号馆C136展位参观、交流和指导。
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电动汽车电池是否能够正常运转及其性能表现直接影响到电动汽车的续航能力、寿命和安全，因此电动汽车电池测试一直是技术工程师关注的重点。本次研讨会，我们将一起讨论imc为此提供的解决方案，包括试验台、测试装置和电池单元开发中及用于整个电池组的测试方案。典型的应用场景包括：电池包下线检测及IPX测试。
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泰克科技以“启智未来、测试为先”的TIF2023年度大会日前圆满落幕，本次大会探讨了未来科技发展的趋势和前沿技术，并展示了最新的技术和测试测量解决方案，分享了公司未来的发展战略和愿景。
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泰瑞达（NASDAQ:TER）宣布，受邀出席了SEMICON China 2023同期举办的“先进封装论坛 - 异构集成”活动。在活动中，泰瑞达Complex SOC事业部亚太区总经理张震宇发表题为《异构集成和Chiplet时代下，芯片测试行业的机遇与挑战》的精彩演讲，生动介绍泰瑞达对于先进封装，在质量和成本之间找到平衡和最优方案的经验和见解。
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日前，在EEWORLD组织的《UWB其实没那么神秘——最新技术、方案、市场、应用解析》研讨会上，NI亚太区半导体与电子业务发展经理欧阳孚介绍了UWB的四项测试挑战，以及NI对应的测试方案。
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此外在本次展会上，R&S公司带来了智能超表面测试解决方案。该解决方案采用R&S SMW200A矢量信号发生器和R&S TSME6扫频仪，可以验证部署RIS后在RSRP等覆盖性能上的提升，为RIS的研发搭建了一个良好的性能验证平台。
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