安捷伦科技公司（NYSE：A）日期宣布为其业界领先的高分辨率、高带宽 M8190A 任意波形发生器添加增强功能。增强功能可为工程师提供更大的灵活性，从而使用 5 到 7 GHz 频谱创建各种信号情景
>>详情安捷伦科技公司（NYSE：A）将在最新一届的移动通信世界大会上，展示其业界首款用于 LTE-Advanced、LTE、HSPA+、双载波 HSDPA、MIMO、多标准无线通信（MSR）和 LTE 语音的通信测试与测量解决方案，以及面向研发、制造和部署等业务领域的 2G/3G 解决方案。
>>详情Maxim Integrated Products, Inc (NASDAQ：MXIM)推出Teridian三相功率测量片上系统(SoC) 78M6631，用于大功率负载的电能监测。完全集成的可定制电能测量系统具有完备的测量和诊断功能，有效简化设计、降低成本。78M6631适合各种需要监测三相功率和供电质量的应用，包括：工业控制面板、电机、太阳能板逆变器、存储电源和数据中心等。
>>详情安捷伦科技公司日前宣布推出业界领先的N7109A多通道信号分析仪增强功能，包括 LTE 天线波束赋形和 LTE-Advanced 载波聚合，可满足新兴多通道 LTE、TD-LTE、LTE-Advanced 和 MIMO 射频测量的要求。
>>详情泰克，PCI Express 3．0，TLA7SA08，TLA7SA16
2011-12-28 15:35:08泰克公司日前宣布，TLA7SA08 和 TLA7SA16 逻辑协议分析仪模块新增了软件功能，支持下一代PCIe规范，即PCI Express 3.0规范。新的功能包括创新的鸟瞰图（BEV），帮助工程师洞察和分析复杂的流控制问题，并且只需一键式校准和自动配置，从而使PCIe系统调试和分析变得更迅速，更容易。
>>详情泰克公司日前宣布，增强和扩展其SFF 8431 SFP+ 一致性测试和调试解决方案，包括支持之前只能在示波器 (如Tektronix DPO/DSA/MSO70000D 系列) 上以极快速采样率执行的严格的TWDPc（发送端波形失真损失）测量。
>>详情安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出基于 X 系列信号分析仪的多标准无线技术（MSR）信号测量应用软件、LTE MAC层测试软件及802.11ac信号产生和分析解决方案。
>>详情安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出最新的 E5515E 8960 系列 10 无线通信测试仪，该测试仪专为需要以最大数据速率对 2G/3G/3.5G 设计进行极限测试的研发工程师而设计。
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横跨多重电子应用领域、全球领先的半导体供应商意法半导体（STMicroelectronics，简称ST；纽约证券交易所代码：STM）宣布，全球首款未使用任何接触式探针完成裸片全部测试的半导体晶圆研制成功。意法半导体创新且先进的测试技术实现与晶圆电路阵列之间只使用电磁波作为唯一通信方式测试晶圆上的芯片，如RFID（射频识别）IC。
>>详情安捷伦科技，Lime Microsystems，无线系统测量
2011-12-15 11:18:40安捷伦科技公司（NYSE：A）和 Lime Microsystems 日前联合发布一套由测试设备、收发信机技术和控制软件构成的全新定制产品，用于测试和评估先进无线系统。评测平台包含全套测试设备和软件，可为当前的数字和软件无线电设计人员节省开发时间、缩短优化周期和加快新产品的上市速度。
>>详情Allegro DVT，H．264 SVC，Level 4．2
2011-12-09 17:04:50领先的视频符合性测试数据流公司Allegro DVT于近期发布了其最新的H.264 SVC可扩展高端Level 4.2符合性测试套件，以及H.264 MVC立体声高端Level 4.1符合性测试套件，使这两种新兴的、面向全高清内容（1080P60和全HD 3D）可扩展视频传送标准有了完善的测试体系。
>>详情安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布其 89600 VSA 软件现可支持多类无线研发测量，同时分析多载波和多制式的信号，从而为无线测试领域提供更高效的测试和更深入的信号分析。
>>详情全球示波器市场的领导厂商—泰克公司日前宣布，推出新软件和测试夹具，为DisplayPort 1.2 一致性测试规范（CTS）提供全自动化的一致性测试支持。这些新产品与8 GHz或更高带宽的泰克DPO/DSA 70000系列数字示波器配合使用，以确保得到可靠和可重复的测试结果。
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全球示波器市场的领导厂商—泰克公司日前宣布，推出首个33 GHz带宽的相干测试系统---OM4106D相干光波信号分析仪。这一业内最快的性能是通过与具有优异实时性能的 DPO70000D系列示波器的紧密整合而实现，连同具有最佳激光相位容限的专用内建算法、无码型长度限制以及深度显示能力，可对高性能光设计进行快速分析和调试。
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