霍尔效应已被证明是一种相当有用的物理现象。它可用于涉及电流和磁场的各种测量应用。在近发表的一篇文章中，我讨论了基于霍尔效应的无刷直流电机驱动器。在本文中，我们将介绍一种利用霍尔效应来监测角度位置的 IC。
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双脉冲测试中一个重要目标是，准确测量能量损耗。在示波器中进行准确的功率、能量测试，关键的一步是在电压探头和电流探头之间进行校准，消除时序偏差。
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使用独立仪器设计多通道自动化测试系统时，由于要重复设计显示屏、前面板、电源和电源线等基本功能，效率非常低下。与机架堆叠式仪器通信也很低效，因为这些仪器中的大多数可能使用基于以太网的 LAN 仪器扩展 (LXI)，与 Thunderbolt 3 等更快的串行接口相比，LXI 速度更慢，编程开销也更大。
>>详情现代车辆充满了更新的传感器、远程信息处理和无线技术。越来越多的数字和射频技术被设计到的汽车中是一个加速的趋势，随着电动汽车 (EV) 技术的日益普及，这一趋势也正在蓬勃发展。尽管电动汽车的采用率在大多数市场保持稳定，但在一些亚洲市场，电动汽车的采用率逐年飙升。
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由于锂离子电池的充电过程可能需要一个小时或更长时间，因此使用其自然负载（即电池）测试锂离子电池充电器既耗时又不方便。本应用笔记介绍了一个用于模拟 Li+ 电池行为的简单电路，从而提供了一种比使用真实电池更方便的测试 Li+ 电池充电器的方法。
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虽然可靠性测试在封装器件级进行，但许多IC制造商正在转移到晶圆级测试，包括需要在上游制造过程中进行进一步测试。晶圆级可靠性 (WLR) 测试还消除了由于封装器件故障而造成的大部分时间、生产能力、资金和材料损失。因为晶圆可以直接从生产线上拉下来进行测试，而无需等待器件封装，这一过程可能长达两周，所以周转时间明显缩短。在器件和WLR测试中，大部分测试是相同的，所以相对容易能够迁移到晶圆级测试。
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以往的电源环路响应测试，工程师通常需要使用专门的环路响应测试设备来完成；与此同时，为了完成其他各种电源参数的测试还需要用到示波器。这意味着为了要完成整体电源测试，企业不仅要花费更多的硬件投入成本，也需要工程师花费更多的时间去学习和了解相关测试设备。那么问题来了，有没有一台设备可以完成所有的电源测试项，从而帮助企业降低硬件成本投入和员工的学习成本？
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