集成电路 (IC) 降低了硬件开发成本，促进了电子设备的小型化并具有广泛的功能，因此比以往任何时候都更加抢手。为确保大批量生产的质量，半导体制造商需要可靠、紧凑的自动测试设备 (ATE) ，能够在保持信号低电平、信号高电平且损耗最小的情况下快速开关高频 AC 和 DC 电流。
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当我们完成电源方案设计时，待样品做出来之后，要测试产品的各项性能，其中一项是测试电源系统的转换效率，确认是否与设计值保持一致。
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在电源电子领域，DC-DC转换器是一类至关重要的电路，负责将直流电能从一个电压水平转换为另一个。在这一过程中，开关信号（SW信号）的正确性对整个系统的性能至关重要。因此，本文将深入探讨如何有效地测试DC-DC转换器的SW信号，以确保系统的可靠性和稳定性。
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在当今的半导体市场，公司成功的两个重要因素是产品质量和可靠性。而这两者是相互关联的，可靠性体现为在产品预期寿命内的长期质量表现。任何制造商要想维续经营，必须确保产品达到或超过基本的质量标准和可靠性标准。安森美(onsemi)作为一家半导体供应商，为高要求的应用提供能在恶劣环境下运行的产品，且这些产品达到了高品质和高可靠性。
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双脉冲测试(DPT)是一种被广泛接受的评估功率器件动态特性的方法。以IGBT在两电平桥式电路中应用为例，如下图，通过调节直流母线电压和第一个脉冲持续时间，可以在第一个脉冲结束和第二个脉冲开始时捕捉到被测器件在任何所需的电压和电流条件下的开关瞬态行为。
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在当今的半导体市场，公司成功的两个重要因素是产品质量和可靠性。而这两者是相互关联的，可靠性体现为在产品预期寿命内的长期质量表现。任何制造商要想维续经营，必须确保产品达到或超过基本的质量标准和可靠性标准。安森美 (onsemi) 作为一家半导体供应商，为高要求的应用提供能在恶劣环境下运行的产品，且这些产品达到了高品质和高可靠性。
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模拟示波器的正常运行是在几个关键组件的共同作用下实现的，包括阴极射线管CRT、垂直放大器、时基、水平放大器、电源。CRT是整个模拟示波器运行的核心，其中的电子束能够形成被测电信号的可见轨迹，其过程包括垂直放大、时基控制、水平放大。
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半导体行业一直专注于使用先进的刻蚀设备和技术来实现图形的微缩与先进技术的开发。随着半导体器件尺寸缩减、工艺复杂程度提升，制造工艺中刻蚀工艺波动的影响将变得明显。刻蚀终点探测用于确定刻蚀工艺是否完成、且没有剩余材料可供刻蚀。这类终点探测有助于最大限度地减少刻蚀速率波动的影响。
>>详情宽带5G设备的设计工程师和测试工程师亟需快速、准确且经济高效的测试解决方案来确保新型芯片设计的可靠性。了解宽带5G IC测试的最大测试挑战
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