虽然可靠性测试在封装器件级进行，但许多IC制造商正在转移到晶圆级测试，包括需要在上游制造过程中进行进一步测试。晶圆级可靠性 (WLR) 测试还消除了由于封装器件故障而造成的大部分时间、生产能力、资金和材料损失。因为晶圆可以直接从生产线上拉下来进行测试，而无需等待器件封装，这一过程可能长达两周，所以周转时间明显缩短。在器件和WLR测试中，大部分测试是相同的，所以相对容易能够迁移到晶圆级测试。
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以往的电源环路响应测试，工程师通常需要使用专门的环路响应测试设备来完成；与此同时，为了完成其他各种电源参数的测试还需要用到示波器。这意味着为了要完成整体电源测试，企业不仅要花费更多的硬件投入成本，也需要工程师花费更多的时间去学习和了解相关测试设备。那么问题来了，有没有一台设备可以完成所有的电源测试项，从而帮助企业降低硬件成本投入和员工的学习成本？
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鉴于温度和湿度对建筑物和电子系统的结构完整性的影响，获得准确和可靠的对这些参数的测量能力是广泛的消费、工业和医疗应用的设计基础。人们十分关注湿度和温度对健康的影响，研究表明，这些参数的变化会产生从体感不适到气溶胶化病毒感染等各种影响。
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电动汽车 (EV) 在 2022 年占据全球汽车销售份额的 13%，预计到2030年将占据全球汽车销售份额的30%。该行业需要继续加大研发力度，推出更多价格亲民的车型，促进燃油车市场向电动车市场转型。市场转型过程中，对性能更强、价格更低的动力电池产生巨大需求，目前动力电池仍然是导致电动汽车价格高昂的主要因素。
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该封装安装在低电导率测试板上，根据 JEDEC 标准，该测试板的尺寸为 76.2 mm x 76.2 mm。包相对居中。总共准备了两个低电导率板用于测量。这些测试板由 FR-4 材料制成，铜迹线厚度符合低电导率板的 JEDEC 标准。所有板上都使用了经过测试的“良好”设备。所有热阻测量数据列于图 2 中。
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许多示例应用程序展示了该装置如何检测房间内的占用情况并测量距离、速度以及我喜欢的呼吸。XE125 演示板中的板载Arm Cortex M4与 A121 配合使用来配置它，然后将信息转发到您的计算机。我发现测量效果非常好，并对它的效果感到非常惊讶。正如我所说，呼吸应用程序是显示设备可以检测到的微小变化的一种非常好的方式。距离仅一米远，我非常安静、放松地坐着，将呼吸保持在限度，设备仍然可以感知到我吸气和呼气时几毫米的运动。
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源测量单元 (SMU) 仪器将精密电源 (PPS) 的功能与高性能数字万用表 (DMM) 的功能集成在单个仪器中。例如，SMU 仪器可以在测量电流的同时提供或吸收电压，并在测量电压的同时提供或吸收电流（_图 1_）。它们可以用作独立的恒压或恒流源，独立的电压表、电流表和欧姆表，以及精密电子负载。它们的高性能架构还允许将它们用作脉冲发生器、波形发生器和自动电流-电压 (IV) 表征系统。
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随着汽车安全性和娱乐性的要求不断提高，车载网络 (IVN) 的数据速率要求也在不断提高。高级驾驶辅助系统 (ADAS) 和驾驶舱信息娱乐系统等系统变得越来越快，越来越复杂。制造商正在转向车载网络的研究，用以支持 ADAS 和驾驶舱信息娱乐系统中设备的数据速率传输。为了保障汽车以太网环境下，设备能够正常运行，发射端、接收端和电缆 / 连接器组件等部件必须通过一系列 一致性测试。
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关于交流特性测量方法讨论的一部分描述了短路和过载电流特性、远程开/关控制和隔离电压。它还涵盖了 DC-DC 转换器的隔离电阻和电容、动态负载响应以及输出纹波或噪声。
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