GaN HEMT器件性能的评估，一般包含静态参数测试（I-V测试）、频率特性（小信号S参数测试）、功率特性（Load-Pull测试）。静态参数，也被称作直流参数，是用来评估半导体器件性能的基础测试，也是器件使用的重要依据。以阈值电压Vgs（th）为例，其值的大小对研发人员设计器件的驱动电路具有重要的指导意义。
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放大器增益的介绍可以说是输出端测得的信号与输入端测得的信号之间存在的关系。可以测量三种不同类型的放大器增益，它们是：电压增益( Av )、电流增益( Ai ) 和功率增益( Ap )，具体取决于测量的量，下面给出了这些不同类型增益的示例。
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由于汽车消耗大量电力，因此只有具有高功率密度的电池技术才是可取的，而且由于汽车需要每天使用，因此电池必须是可充电的。然而，它们更大的储能能力（由于使用了活性金属）意味着它们在发生故障时可能更具破坏性。
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半导体制作工艺可分为前端和后端：前端主要是晶圆制作和光刻（在晶圆上绘制电路）；后端主要是芯片的封装。随着前端工艺微细化技术逐渐达到极限，后端工艺的重要性愈发突显。作为可以创造新附加价值的核心突破点，其技术正备受瞩目。
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Raspberry Pi， DDS信号发生器， 精确RF测试
2023-06-08 17:02:36本文提出了一种高频、低失真、低噪声的信号源。所介绍的系统是一种采用基于高速DAC的DDS架构的低成本RF信号频率合成器解决方案，通过使用基于DDS技术的矢量信号发生器，该系统较之简单PLL的有多项优势，例如简单化、低失真、高分辨率调谐、近乎瞬时的跳频、相位和幅度调制。
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该项目系列的总体目标是设计一个智能环境光监视器，它可以分析室内光线水平并执行相应的响应操作，例如控制灯调光器。在开发这个项目的过程中，我们需要一种方便的方法来表示电流和电压幅度的模数转换值。
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测量对地存在共模电压的信号波形，若测量仪器或测量方法不正确，轻则影响测量结果，重则危害生命财产安全。本文通过典型的两个实例，说明不当的测量方法对结果的影响和可能引起的安全问题，并提出正确的测量方法。
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开关电源纹波不可避免，我们最终的目的是要把输出纹波降低到可以忍受的程度，达到这个目的最根本的解决方法就是要尽量避免纹波的产生，首先要清楚开关电源纹波的种类和产生原因。
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一款单个测试电路可“执行对任何运算放大器全面检查所需的所有标准DC测试”。单个测试电路在那个时候可能够用，但今天并非如此，因为现代运算放大器具有更全面的规范。因此，单个测试电路不再包揽所有DC测试。
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虽然可以使用专用设备执行频率响应分析，但也可以使用较新的 示波器 来测量电源控制环路的响应。使用示波器、信号源和自动化软件，可以快速进行测量并以熟悉的波德图呈现。这使得评估裕量并将电路性能与模型进行比较变得容易。波德图通过两个图绘制系统的频率响应——幅值图和相位图（以度为单位的相移）。从这些图中可以确定增益裕度和相位裕度以衡量电源稳定性。
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