本系列文章详细介绍了半导体后端工艺,涵盖了从不同类型的半导体封装、封装工艺及材料等各个方面。作为本系列的收篇之作,本文将介绍半导体的可靠性测试及标准。除了详细介绍如何评估和制定相关标准以外,还将介绍针对半导体封装预期寿命、半导体封装在不同外部环境中的可靠性,及机械可靠性等评估方法。
>>详情可以通过将空气介质传输线贴在非金属水箱外壁来检测RF阻抗,以准确测量其液位。本文提供一个经验设计示例,显示反 射计器件(例如ADI公司的ADL5920)如何帮助简化设计。
>>详情电化学产品日趋微型化。仪器仪表从机架安装式或台式机缩小为手持式设备,以进行目标点或环境分析。下一代仪器仪表开始将恒电势器集成到更小的设备(例如可穿戴设备、医疗设备或气体监测仪)中。ADI公司与PalmSens BV合作研发的EmStat Pico就是一款微型(30.5 mm × 18 mm × 2.6 mm)恒电势器系统化模块(SOM),它延续了这一尺寸缩小的趋势。该器件采用ADI技术构建,包括ADuCM355、ADP166、ADT7420和AD8606。
>>详情本系列文章从数字芯片设计项目技术总监的角度出发,介绍了如何将芯片的产品定义与设计和验证规划进行结合,详细讲述了在FPGA上使用IP核来开发ASIC原型项目时,必须认真考虑的一些问题。文章从介绍使用预先定制功能即IP核的必要性开始,通过阐述开发ASIC原型设计时需要考虑到的IP核相关因素,用八个重要主题详细分享了利用ASIC IP来在FPGA上开发原型验证系统设计时需要考量的因素。
>>详情在电子测试测量领域,半导体自动化测试系统能够对芯片进行大规模、高精度的测试,涵盖从晶圆到最终封装的各个环节,是确保电子器件能够满足严格规范的关键工具。随着AI、5G通信、物联网、汽车电子等市场的蓬勃发展,对半导体器件的需求量大幅增加,也进一步推高了对高效、精确的自动化测试解决方案的需求。
>>详情开关电源是当前电子信息飞速发展不可或缺的电源方式之一。开关电源以其功耗小、效率高、节能效果显著的优势,广泛应用于各种消费类电子以及各类供电系统当中,成为一种主流的电源产品。
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