电化学产品日趋微型化。仪器仪表从机架安装式或台式机缩小为手持式设备，以进行目标点或环境分析。下一代仪器仪表开始将恒电势器集成到更小的设备（例如可穿戴设备、医疗设备或气体监测仪）中。ADI公司与PalmSens BV合作研发的EmStat Pico就是一款微型(30.5 mm × 18 mm × 2.6 mm)恒电势器系统化模块(SOM)，它延续了这一尺寸缩小的趋势。该器件采用ADI技术构建，包括ADuCM355、ADP166、ADT7420和AD8606。
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本系列文章从数字芯片设计项目技术总监的角度出发，介绍了如何将芯片的产品定义与设计和验证规划进行结合，详细讲述了在FPGA上使用IP核来开发ASIC原型项目时，必须认真考虑的一些问题。文章从介绍使用预先定制功能即IP核的必要性开始，通过阐述开发ASIC原型设计时需要考虑到的IP核相关因素，用八个重要主题详细分享了利用ASIC IP来在FPGA上开发原型验证系统设计时需要考量的因素。
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在电子测试测量领域，半导体自动化测试系统能够对芯片进行大规模、高精度的测试，涵盖从晶圆到最终封装的各个环节，是确保电子器件能够满足严格规范的关键工具。随着AI、5G通信、物联网、汽车电子等市场的蓬勃发展，对半导体器件的需求量大幅增加，也进一步推高了对高效、精确的自动化测试解决方案的需求。
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开关电源是当前电子信息飞速发展不可或缺的电源方式之一。开关电源以其功耗小、效率高、节能效果显著的优势，广泛应用于各种消费类电子以及各类供电系统当中，成为一种主流的电源产品。
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轴承安装于电机轴上，到电机发热传导影响而升温。处于良好工作状态下，电机内部轴承温度主要受电机绕组传导热量影响，应处于稳定水平，如温度异常升高，则表面摩擦发热过大，需要检修。
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电源是芯片的能量来源，也是逻辑状态的参考基准。如果电源的纹波和噪声过大，会在高速变化的逻辑信号上产生大量抖动，进而产生误码(注:误码即错误的码元，将逻辑1当成逻辑0,或者将0当成1)，影响芯片的性能，甚至导致芯片无法正常工作。高速信号验证中非常重要的随机抖动和低频的周期性抖动，就是由于电源的噪声和纹波所引入的。
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使用可充电电池的现代产品应用通常具有内置传感器和电池管理系统 (BMS) 电路。BMS 可监控可充电电池系统的电压、电流和温度，无论是单个电池、模块（一组电池）还是电池组（一组模块）。一般而言，监控电池的电压和电流通常不足以确定电池的健康状况。
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