电桥测试仪是一种用于测量电阻、电容、电感等电参数的仪器。它主要通过使用电桥原理来测量未知电阻或其他元件的值。电桥测试仪常见于实验室、生产线和维修工作中，用于的电参数测量。
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近二十年来，PCI Express技术已成为广泛采用的高速串行接口连接标准。最新的 PCIe规范满足了数据密集型市场的需求，例如人工智能/机器学习和高性能计算。泰克PCIe 自动化测试解决方案能够处理设置和校准，显著降低了测试复杂性。与低噪音测量硬件相结合，可实现快速、准确且可重复的信号完整性测量。作为 PCI-SIG工作组的活跃投票成员，泰克拥有发射机、接收机、参考时钟和锁相环 (PLL) 验证所需的丰富专业知识。
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本文提出，CMOS开关可以取代自动测试设备(ATE)厂商使用的PhotoMOS®开关。CMOS开关的电容乘电阻(CxR)性能可以与PhotoMOS相媲美，且其导通速度、可靠性和可扩展性的表现也很出色，契合了先进内存测试时代ATE厂商不断升级的需求。
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精密测试设备依靠的数据转换器，确保所有测量结果都能准确地反映受测器件的状态。在测试和测量中，任何偏移误差、增益误差或有效位数减少都将对测量结果产生负面影响。然而，遗憾的是，在高精度系统中，所有这些误差都无法完全避免。温度漂移或长期漂移等问题终会以增益误差或偏移误差的形式表现出来。因此必须进行校准，确保所有测量结果都是准确的。
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PSRR是一个重要参数，可评估LDO在输入电源中的变化中保持一致输出电压的能力。在输入电源体验波动的情况下，实现高PSRR至关重要，从而确保输出电压的可靠性。下图1说明了测量PSRR的一般方法。
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运算放大器是差分输入、单端输出的极高增益放大器，常用于高精度模拟电路，因此必须精确测量其性能。但在开环测量中，其开环增益可能高达107或更高，而拾取、杂散电流或塞贝克（热电偶）效应可能会在放大器输入端产生非常小的电压，这样误差将难以避免。
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我们将高功率SiC器件定义为处理1kV和100A范围内的器件，这相当于100kW的功率。SiC晶体管处理和服务的高电压、高电流和快速开关系统的性质带来了许多在普通5V或12V系统中不会出现的挑战。
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对高速链路（如PCI Express®）的全面表征需要对被测链路的发送端（Tx）和接收端（Rx）进行多差分通道的测量。由于需要在不同通道之间进行同轴连接的物理切换，这对于完全自动化的测试环境来说是一个挑战。引入RF开关矩阵允许多通道测试中的物理连接切换，并实现自动化软件测试。
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