本文提出，CMOS开关可以取代自动测试设备(ATE)厂商使用的PhotoMOS®开关。CMOS开关的电容乘电阻(CxR)性能可以与PhotoMOS相媲美，且其导通速度、可靠性和可扩展性的表现也很出色，契合了先进内存测试时代ATE厂商不断升级的需求。
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精密测试设备依靠的数据转换器，确保所有测量结果都能准确地反映受测器件的状态。在测试和测量中，任何偏移误差、增益误差或有效位数减少都将对测量结果产生负面影响。然而，遗憾的是，在高精度系统中，所有这些误差都无法完全避免。温度漂移或长期漂移等问题终会以增益误差或偏移误差的形式表现出来。因此必须进行校准，确保所有测量结果都是准确的。
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PSRR是一个重要参数，可评估LDO在输入电源中的变化中保持一致输出电压的能力。在输入电源体验波动的情况下，实现高PSRR至关重要，从而确保输出电压的可靠性。下图1说明了测量PSRR的一般方法。
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运算放大器是差分输入、单端输出的极高增益放大器，常用于高精度模拟电路，因此必须精确测量其性能。但在开环测量中，其开环增益可能高达107或更高，而拾取、杂散电流或塞贝克（热电偶）效应可能会在放大器输入端产生非常小的电压，这样误差将难以避免。
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我们将高功率SiC器件定义为处理1kV和100A范围内的器件，这相当于100kW的功率。SiC晶体管处理和服务的高电压、高电流和快速开关系统的性质带来了许多在普通5V或12V系统中不会出现的挑战。
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对高速链路（如PCI Express®）的全面表征需要对被测链路的发送端（Tx）和接收端（Rx）进行多差分通道的测量。由于需要在不同通道之间进行同轴连接的物理切换，这对于完全自动化的测试环境来说是一个挑战。引入RF开关矩阵允许多通道测试中的物理连接切换，并实现自动化软件测试。
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在许多照明应用中，测量两个光源的相对强度比测量其各自的强度更重要。这样能确保两个光源以相同的强度发光。例如，比较同一建筑物内控制室（ 1 号房间）和另一间房（ 2 号房间）的亮度会有帮助，以便可以在白天的任何时间和夜里进行调整。或者，对于一个生产系统，您可能希望确保明亮的光照条件不发生变化。
>>详情电气绝缘电阻的测试是评估电气设备绝缘性能的重要手段，通常用于检测电力设备或电缆、导线的绝缘层是否存在破损或老化等问题。测试绝缘电阻可以确保电气设备安全，防止漏电、短路等事故。
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远程感测是一种行之有效的方法，通过消除连接电缆中压降的影响来调节负载点的直流功率。这在测试和测量应用中尤其重要，在这些应用中，电源电压在一系列负载条件下的准确性和一致性通常对于获得准确且可重复的测试结果至关重要。
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